第552章 证明黎曼猜想的第一步(万字)(2/19)

.

.

.”

这个时候,杜文涛继续说道。

“还是不行。”

“因为我们拿钝化那一批里标定最好的3个器件做了连续监测。”

“跑完4个小时的重复标定以後,批间散差虽然压了下去,但同一个器件自己临界电流会随时间慢慢的偏移。”

“偏移?”

“对,但并不是随机偏移,而是有一个很慢的趋势性。”

“我们刚做完的时候数据是很漂亮的,过了两个小时再测一次,临界电流就发生偏移了,再过两个小时又偏移了一点,方向还不一样。”

李东站在屏幕前,看着那三条缓慢弯曲的偏移曲线,沉默了好一会。

他最开始以为问题出在图形化工艺後,表面重构引入缺陷态。

如果是这个问题的话,钝化应该是管用。

但现在看来,钝化只能把批间差异压下来。

因为批间差异和表面缺陷的密度有关。

可钝化之後,器件内部那个偏移却一点没变。

不管是偏移的速率,方向,和没做钝化之前几乎是一样。

所以,这个偏移不是缺陷的问题,而是材料本身问题。

现在李东他们用材料是(li?

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fe?

。

?)ohfese, 42k铁硒基。

这个材料从它出生的那天起,就有一个标签始终都甩不掉,那就是亚稳相。

亚稳相意味着晶格并没有处在热力学意义上最低能态。

而是被动力学困在了一个局域极小的值里

如果是在10 mk工作温度下,热激活是可以忽略掉的,但量子隧穿不能忽略。

晶格中某些原子占位在极缓慢的弛豫,这样就带着整个电子的结构一起微微的偏移了。

所以这不是工艺的问题,是材料的问题。
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